负载可变式摩擦磨损试验系统
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CI-400计算机图像分析系统
计算机图像分析系统:在Windows下运行的CI-400计算机图像分析系统(CIAS)使您能够对彩色或黑白图像完成“开始—终了”的一系列操作
涂（镀）层测厚仪
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Discovery氙灯导热仪
Discovery氙灯导热仪(DXF)使用高速氙灯脉冲发射源(HSXD)。与激光导热仪相比，其价格更低、所需的维护更少，但能得到相同的测试效果。反射式光学系统充分利用了氙灯闪光管的功率，并将其传输到样品上。
Microtrac纳米粒度及Zeta电位分析仪
纳米粒度测量——新动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小，例如分子级别的大小，颗粒对光的散射效率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（PCS）变得更加不确定。40多年来，Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。
TPR塑料密度计
TPR密度计 塑料密度计直读任何固体物质的密度值、体积、百分比,可以测PVC颗粒、EVA发泡体、粉末、薄膜等皆可快速测量，操作简单、方便、测量快速。